电子探针分析

　　西安中心电子探针实验室配有日本电子公司（JEOL）JXA-8230电子探针显微分析仪一台，可用于岩石、矿物、金属和无机非金属材料等固体样品的显微结构观察与原位微区成分分析，广泛应用于矿物学、岩石学、矿床学、材料科学等研究领域，长期为西北地区高校和科研院所提供着测试服务。实验室曾主持国家自然科学青年基金项目1项，发表论文多篇。 

　　日本电子JXA-8230电子探针 

　　【基本原理】根据莫塞莱定律，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测元素与标样元素的衍射强度进行对比，就可得到电子探针定量分析结果。

　　【性能指标】 

　　 对5-92号元素组成样品进行定量分析，线扫描、面扫描

　　 波长范围：0.087～9.3nm

　　 束斑直径：1～50um（可调）

　　 定量分析检测极限：100ppm

　　 二次电子像分辨率：6nm

　　 背散射电子像分辨率：20nm

　　 放大倍数：40～300000倍

　　【功能特点】 

　　 样品制备方便，不损耗原始样品。

　　 把分析成分与显微观察图像相结合。

　　 分析的灵敏度达到10-4～10-6g，绝对量可达到10-15～10-18g。

　　 分析区域可小到1微米，能提供元素微观尺度的成分的不均匀信息。

　　【应用范围】 

　　 矿物成分分析：对岩石中矿物的主量元素和微量元素进行定量分析。

　　 金属、复合材料、半导体、高分子、陶瓷、生物、纤维等无机或有机固体材料成分分析。

　　 贵金属宝玉石鉴定：快速、无损、准确的检测贵金属的含量并区分宝玉石种类。

　　 文物鉴定：对青铜器等文物进行物相鉴定及成分分析。

　　 材料的表面涂层、镀层分析。

　　 阴极发光图像。

　　 矿物学、材料学、环境学、医学等方面的形貌图像与成分分析。