场发射扫描电子显微镜室

　　Field Emission Scanning Electron Microscope 

　　型 号:日本JSM-7500F 

　　技术指标:放大倍数:×25 ～ 300,000 

　　分 辨 率: 1.0nm/15 kV;1.4nm/1kV 

　　附 件:牛津X-Max50能谱仪;JFC-1600离子溅射仪。 

　　应 用:金属、非金属、半导体、矿物、冶金、考古等材料的显微形态观察、断口形貌分析,样品的高分辨成像及配合EDS进行微区成分分析。