钨灯丝扫描电子显微镜室

　　Scanning Electron Microscope

　　仪器型号:日本JSM-6510A

　　技术指标:放大倍数:× 5 ～30,000、加速电压:0.5 ～ 30 kV、分辨率:3.0nm/30kV;8.0nm/3kV;15.0nm/1 kV

　　附    件:日本电子EDS系统;Gatan ChromaCL2阴极荧光谱仪。

　　应用范围:材料表面微观形貌观察、断口分析;配合EDS可进行微区元素分析;配合阴极发光(CL)附件,可观察愈合裂纹、化学过增长,鉴定精细的振荡环带,也可表征大多数材料的杂质、缺陷、位错、晶界等信息。